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Analyse et caracterisation

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Analyse et caracterisation dans les ressources documentaires

  • Article de bases documentaires
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  • 10 oct. 2025
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  • Réf : G1840

H2S (sulfure d’hydrogène) et composés organiques volatils soufrés

L’hydrogène sulfuré et les composés organiques volatils sulfurés - mercaptans, sulfures, disulfures… - sont connus pour leurs odeurs caractéristiques. Leur présence dans l’atmosphère est due à des rejets naturels et aux émissions gazeuses industrielles. Ce sont des gaz acides, corrosifs et toxiques. L’analyse de ces composés est réalisée soit directement par des capteurs ou par des méthodes de chromatographie gazeuse. La réglementation précise les concentrations des rejets gazeux dans l’environnement et les valeurs limites d’exposition professionnelle. A fortes concentrations, le procédé Claus transforme H 2 S en soufre natif. Pour les concentrations plus faibles en composés soufrés, le lavage de gaz est la technique la plus utilisée. Des procédés d’adsorption sur charbon actif ou des traitements biologiques peuvent être aussi mis en œuvre.

  • Article de bases documentaires
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  • 10 sept. 2025
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  • Réf : P2566

Porosimétrie au mercure

Cet article présente les méthodes de caractérisation des matériaux poreux ou pulvérulents basées sur la porosimétrie au mercure. Les phénomènes physiques à la base de ces méthodes sont décrits et interprétés sur le plan thermodynamique. Les principales procédures expérimentales sont ensuite exposées en détaillant l’influence des conditions expérimentales sur les résultats obtenus. Ces derniers sont interprétés en prenant en compte la complexité des phénomènes capillaires, qui conduisent notamment à des hystérésis d’intrusion-extrusion, et l’influence des principaux paramètres qui interviennent dans les conditions expérimentales ou qui sont liés à la structure du solide. L’exploitation des données en termes de distribution de taille de pore, de porosité ou densité est détaillée et comparée à celles obtenues par d’autres techniques.

  • Article de bases documentaires
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  • 10 sept. 2025
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  • Réf : R6747

L’analyse combinée XRR-GIXRF sans référence pour les couches minces

La propriété des éléments à émettre un rayonnement caractéristique, suite à une excitation par rayons X ou fluorescence X, est exploitée à des fins de quantification. Les équations décrivant cette interaction lumière-matière sont rappelées, ainsi que les conditions expérimentales nécessaires pour s’affranchir du besoin d’étalons de référence. La fluorescence X peut aussi être exploitée en la combinant avec la réflectivité X pour l’étude des couches minces d’épaisseur nanométrique. L’approche présentée ici exploite les données fondamentales dont les enjeux de justesse et d’incertitudes associés sont abordés dans un souci métrologique. 

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